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http://cimav.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1004/1325| Microscopio electrónico JEM–2200FS con corrector de aberración esférica en modo STEM y filtro Omega instalado en el CIMAV | |
| CARLOS ELIAS ORNELAS GUTIERREZ CESAR LEYVA PORRAS FRANCISCO ESPINOSA MAGAÑA FRANCISCO PARAGUAY DELGADO | |
| Acceso Abierto | |
| Sin Derechos Reservados | |
| Microscopía | |
| El microscopio electrónico JEM–2200FS ha sido instalado en Junio del 2009. Este equipo es de alta resolución con fuente de electrones generado por emisión de campo, trabaja en los modos de transmisión y barrido por transmisión (TEM/STEM). Este equipo está dedicado principalmente para el estudio de materiales sintetizados por los investigadores del CIMAV, sin embargo brinda apoyo a las distintas instituciones de la república mexicana. La adquisición del equipo fue dentro del proyecto de Laboratorio Nacional de Nanotecnología, cuya sede es el CIMAV, ubicado en la ciudad de Chihuahua [1]. | |
| 2014 | |
| Memoria de congreso | |
| Español | |
| OTRAS | |
| Versión revisada | |
| submittedVersion - Versión revisada | |
| Aparece en las colecciones: | Artículos de Congresos |
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| JEM2200FS.pdf | 293.19 kB | Adobe PDF | Visualizar/Abrir |