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http://cimav.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1004/1324| Análisis de zafiro por microscopía electrónica de transmisión de ultra alta resolución | |
| CARLOS ELIAS ORNELAS GUTIERREZ SION FEDERICO OLIVE MENDEZ CESAR LEYVA PORRAS FRANCISCO PARAGUAY DELGADO OSCAR OMAR SOLIS CANTO | |
| Acceso Abierto | |
| Sin Derechos Reservados | |
| Análisis de zafiro | |
| Los microscopios electrónicos de transmisión de emisión de campo de última generación (generalmente con corrector de aberración esférica) permiten el análisis de muestras con mayor resolución. Usando un microscopio electrónico de transmisión JEOL modelo JEM2200FS+Cs con emisión de campo, corrector de aberración esférica para la lente condensadora y filtro omega in–colum se analizo una muestra de zafiro. La muestra fue preparada mediante la técnica de Haz de Iones Enfocados (FIB) con un equipo JEOL modelo JEM/9320FIB single beam. Previo al análisis la muestra fue tratada por plasma por 30 segundos en un equipo Fischione modelo 1020. | |
| 2009 | |
| Memoria de congreso | |
| Español | |
| OTRAS | |
| Versión revisada | |
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| Aparece en las colecciones: | Artículos de Congresos |
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