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Análisis de zafiro por microscopía electrónica de transmisión de ultra alta resolución
CARLOS ELIAS ORNELAS GUTIERREZ
SION FEDERICO OLIVE MENDEZ
CESAR LEYVA PORRAS
FRANCISCO PARAGUAY DELGADO
OSCAR OMAR SOLIS CANTO
Acceso Abierto
Sin Derechos Reservados
Análisis de zafiro
Los microscopios electrónicos de transmisión de emisión de campo de última generación (generalmente con corrector de aberración esférica) permiten el análisis de muestras con mayor resolución. Usando un microscopio electrónico de transmisión JEOL modelo JEM2200FS+Cs con emisión de campo, corrector de aberración esférica para la lente condensadora y filtro omega in–colum se analizo una muestra de zafiro. La muestra fue preparada mediante la técnica de Haz de Iones Enfocados (FIB) con un equipo JEOL modelo JEM/9320FIB single beam. Previo al análisis la muestra fue tratada por plasma por 30 segundos en un equipo Fischione modelo 1020.
2009
Memoria de congreso
Español
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