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http://cimav.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1004/1381
XAS and grazing angle XRD of the CoTi2 thin films grown by DC co-sputtering technique | |
IGNACIO YOCUPICIO VILLEGAS HILDA ESPERANZA ESPARZA PONCE JOSE ALBERTO DUARTE MOLLER | |
Acceso Abierto | |
Sin Derechos Reservados | |
XAS | |
The cobalt-titanium thin films were prepared to 500°C in an INTERCOVAMEX V3 sputtering system equipped with four magnetrons assisted by DC pulsed and direct DC. A polished highly oriented (400) silicon wafer was used as substrate. Some references can be read for more information [1,2] | |
2008 | |
Memoria de congreso | |
Inglés | |
OTRAS | |
Versión revisada | |
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