Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem:
http://cimav.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1004/1383| AFM and XPS characterization of TiN thin films grown on nanoporous Al2O3 by using the DC sputtering technique assisted by balanced magnetron | |
| CÉSAR OCTAVIO ENCINAS BACA IGNACIO YOCUPICIO VILLEGAS | |
| Acceso Abierto | |
| Sin Derechos Reservados | |
| AFM | |
| Thin coatings continually are in progress and also them applications. Simple thin films present better results with other metal doping in shape of multi-shells y nano-shells, sequential shell and combinations of shells with different characteristics. | |
| 2007 | |
| Memoria de congreso | |
| Inglés | |
| OTRAS | |
| Versión revisada | |
| submittedVersion - Versión revisada | |
| Aparece en las colecciones: | Artículos de Congresos |
Cargar archivos:
| Fichero | Tamaño | Formato | |
|---|---|---|---|
| MandM-00000757-00.pdf | 2.46 MB | Adobe PDF | Visualizar/Abrir |