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AFM and XPS characterization of TiN thin films grown on nanoporous Al2O3 by using the DC sputtering technique assisted by balanced magnetron
CÉSAR OCTAVIO ENCINAS BACA
IGNACIO YOCUPICIO VILLEGAS
Acceso Abierto
Sin Derechos Reservados
AFM
Thin coatings continually are in progress and also them applications. Simple thin films present better results with other metal doping in shape of multi-shells y nano-shells, sequential shell and combinations of shells with different characteristics.
2007
Memoria de congreso
Inglés
OTRAS
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