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http://cimav.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1004/1383
AFM and XPS characterization of TiN thin films grown on nanoporous Al2O3 by using the DC sputtering technique assisted by balanced magnetron | |
CÉSAR OCTAVIO ENCINAS BACA IGNACIO YOCUPICIO VILLEGAS | |
Acceso Abierto | |
Sin Derechos Reservados | |
AFM | |
Thin coatings continually are in progress and also them applications. Simple thin films present better results with other metal doping in shape of multi-shells y nano-shells, sequential shell and combinations of shells with different characteristics. | |
2007 | |
Memoria de congreso | |
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OTRAS | |
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