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http://cimav.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1004/1707| ANALISIS DE PATRONES DE DIFRACCION POR HAZ RASANTE UNIDIMENSIONAL Y BIDIMENSIONAL DE PELICULAS DELGADAS Pb (Zr0.52Ti0.48)O3 SINTETIZADAS POR DEPÓSITO QUÍMICO DE VAPOR ASISTIDO POR AEROSOL | |
| JUAN RAMOS CANO LUIS EDMUNDO FUENTES COBAS MARIO MIKI YOSHIDA ABEL HURTADO MACIAS WILBER ANTUNEZ FLORES | |
| Acceso Abierto | |
| Sin Derechos Reservados | |
| Ferroeléctricos | |
| Patrones de difracción con incidencia rasante de rayos-X unidimensional y bidimensional (2D) correspondientes a películas delgadas Pb(Zr.52Ti.48)O3 depositadas mediante el método CVD-AA fueron analizados con el objetivo de conocer su evolución estructural. Las películas fueron tratadas térmicamente (recocido) con diferentes tiempos de permanencia en una atmósfera rica en Pb. Los patrones 2D fueron obtenidos en el sincrotrón de Stanford y analizados con el programa ANAELU. Antes del recocido, difractogramas correspondiente a fases intermedias (pirocloro) fueron identificados. Después del recocido, los difractogramas mostraron picos más afilados correspondientes a la fase perovskita característica de estos materiales ferroeléctricos. | |
| 2012 | |
| Memoria de congreso | |
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| Aparece en las colecciones: | Artículos de Congresos |
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