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ANALISIS DE PATRONES DE DIFRACCION POR HAZ RASANTE UNIDIMENSIONAL Y BIDIMENSIONAL DE PELICULAS DELGADAS Pb (Zr0.52Ti0.48)O3 SINTETIZADAS POR DEPÓSITO QUÍMICO DE VAPOR ASISTIDO POR AEROSOL
JUAN RAMOS CANO
LUIS EDMUNDO FUENTES COBAS
MARIO MIKI YOSHIDA
ABEL HURTADO MACIAS
WILBER ANTUNEZ FLORES
Acceso Abierto
Sin Derechos Reservados
Ferroeléctricos
Patrones de difracción con incidencia rasante de rayos-X unidimensional y bidimensional (2D) correspondientes a películas delgadas Pb(Zr.52Ti.48)O3 depositadas mediante el método CVD-AA fueron analizados con el objetivo de conocer su evolución estructural. Las películas fueron tratadas térmicamente (recocido) con diferentes tiempos de permanencia en una atmósfera rica en Pb. Los patrones 2D fueron obtenidos en el sincrotrón de Stanford y analizados con el programa ANAELU. Antes del recocido, difractogramas correspondiente a fases intermedias (pirocloro) fueron identificados. Después del recocido, los difractogramas mostraron picos más afilados correspondientes a la fase perovskita característica de estos materiales ferroeléctricos.
2012
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