Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem:
http://cimav.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1004/2576| Caracterización de películas delgadas de WO3 | |
| José Carlos Jiménez Luis Beatriz Lagunas Simón | |
| Acceso Abierto | |
| Atribución-NoComercial | |
| Resúmen Se realizó la caracterización de películas delgadas de WO3 depositadas sobre sustratos de Silicio, utilizando técnicas como lo son: MEB, AFM, DRX, TEM y nanoindentación. | |
| 2019 | |
| Póster de congreso | |
| Español | |
| FÍSICA | |
| Versión aceptada | |
| acceptedVersion - Versión aceptada | |
| Aparece en las colecciones: | Pósters de divulgación |
Cargar archivos:
| Fichero | Tamaño | Formato | |
|---|---|---|---|
| 12. Póster José Carlos Jiménez_ Beatriz Lagunas.pdf | 1.09 MB | Adobe PDF | Visualizar/Abrir |