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http://cimav.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1004/2599| Caracterización de películas delgadas de WO3 | |
| José Carlos Jiménez Luis Beatriz Lagunas Simón | |
| Acceso Abierto | |
| Atribución-NoComercial | |
| Resúmen Se realizó la caracterización de películas delgadas de WO3 depositadas sobre sustratos de Silicio, utilizando técnicas como lo son: MEB, AFM, DRX, TEM y nanoindentación. | |
| 2019 | |
| Póster de congreso | |
| Español | |
| BIOLOGÍA Y QUÍMICA | |
| Versión aceptada | |
| acceptedVersion - Versión aceptada | |
| Aparece en las colecciones: | Pósters de divulgación |
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