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Caracterización de películas delgadas de WO3
José Carlos Jiménez Luis
Beatriz Lagunas Simón
Acceso Abierto
Atribución-NoComercial
Resúmen Se realizó la caracterización de películas delgadas de WO3 depositadas sobre sustratos de Silicio, utilizando técnicas como lo son: MEB, AFM, DRX, TEM y nanoindentación.
2019
Póster de congreso
Español
BIOLOGÍA Y QUÍMICA
Versión aceptada
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