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| Fecha de publicación | Título | Tipo de publicación/ Tipo de recurso | Autor(es) | Fecha de depósito |
|---|---|---|---|---|
| 2007 | AFM and XPS characterization of TiN thin films grown on nanoporous Al2O3 by using the DC sputtering technique assisted by balanced magnetron | Memoria de congreso | CÉSAR OCTAVIO ENCINAS BACA; IGNACIO YOCUPICIO VILLEGAS | 20-mar-2018 |