Buscar
Resultados 1-1 de 1.
- Anterior
- 1
- Siguiente
Resultados por ítem:
Fecha de publicación | Título | Tipo de publicación/ Tipo de recurso | Autor(es) | Fecha de depósito |
---|---|---|---|---|
2007 | AFM and XPS characterization of TiN thin films grown on nanoporous Al2O3 by using the DC sputtering technique assisted by balanced magnetron | Memoria de congreso | CÉSAR OCTAVIO ENCINAS BACA; IGNACIO YOCUPICIO VILLEGAS | 20-mar-2018 |