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Resultados por ítem:
Fecha de publicación | Título | Tipo de publicación/ Tipo de recurso | Autor(es) | Fecha de depósito |
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2007 | AFM and XPS characterization of TiN thin films grown on nanoporous Al2O3 by using the DC sputtering technique assisted by balanced magnetron | Memoria de congreso | CÉSAR OCTAVIO ENCINAS BACA; IGNACIO YOCUPICIO VILLEGAS | 20-mar-2018 |
2010 | Nanoscopic study of chemical species during uranium electrodeposition for alpha spectrometry sources | Artículo | HILDA ESPERANZA ESPARZA PONCE; LUIS FUENTES MONTERO; MARIA ELENA MONTERO CABRERA | 31-may-2018 |